4XC-W કમ્પ્યુટર મેટાલોગ્રાફિક માઇક્રોસ્કોપ વિહંગાવલોકન
4XC-W કોમ્પ્યુટર મેટલર્જિકલ માઈક્રોસ્કોપ એ ટ્રાઈનોક્યુલર ઈન્વર્ટેડ મેટલર્જિકલ માઈક્રોસ્કોપ છે, જે એક ઉત્તમ લાંબી ફોકલ લેન્થ પ્લાન વર્ણહીન ઓબ્જેક્ટિવ લેન્સ અને વ્યુ પ્લાન આઈપીસના વિશાળ ક્ષેત્રથી સજ્જ છે.ઉત્પાદન સંરચનામાં કોમ્પેક્ટ, અનુકૂળ અને ચલાવવા માટે આરામદાયક છે.તે મેટાલોગ્રાફિક સ્ટ્રક્ચર અને સપાટીના મોર્ફોલોજીના માઇક્રોસ્કોપિક અવલોકન માટે યોગ્ય છે, અને ધાતુશાસ્ત્ર, ખનિજશાસ્ત્ર અને ચોકસાઇ ઇજનેરી સંશોધન માટે એક આદર્શ સાધન છે.
નિરીક્ષણ સિસ્ટમ
હિન્જ્ડ ઓબ્ઝર્વેશન ટ્યુબ: બાયનોક્યુલર ઓબ્ઝર્વેશન ટ્યુબ, એડજસ્ટેબલ સિંગલ વિઝન, લેન્સ ટ્યુબનું 30° ટિલ્ટ, આરામદાયક અને સુંદર.ત્રિનોક્યુલર વ્યુઇંગ ટ્યુબ, જે કેમેરા ઉપકરણ સાથે કનેક્ટ કરી શકાય છે.આઈપીસ: WF10X લાર્જ ફીલ્ડ પ્લાન આઈપીસ, φ18mm ની વ્યુ રેન્જ સાથે, વિશાળ અને સપાટ અવલોકન જગ્યા પૂરી પાડે છે.
યાંત્રિક તબક્કો
મિકેનિકલ મૂવિંગ સ્ટેજમાં બિલ્ટ-ઇન રોટેટેબલ ગોળાકાર સ્ટેજ પ્લેટ હોય છે, અને ધ્રુવીકૃત પ્રકાશ માઈક્રોસ્કોપીની જરૂરિયાતોને પહોંચી વળવા માટે ધ્રુવીકૃત પ્રકાશ અવલોકનની ક્ષણે પરિપત્ર સ્ટેજ પ્લેટ ફેરવવામાં આવે છે.
લાઇટિંગ સિસ્ટમ
કોલા ઇલ્યુમિનેશન પદ્ધતિનો ઉપયોગ કરીને, છિદ્ર ડાયફ્રૅમ અને ફીલ્ડ ડાયફ્રૅમને ડાયલ્સ દ્વારા ગોઠવી શકાય છે, અને ગોઠવણ સરળ અને આરામદાયક છે.વૈકલ્પિક પોલરાઇઝર વિવિધ ધ્રુવીકરણ અવસ્થાઓ હેઠળ માઇક્રોસ્કોપિક છબીઓનું નિરીક્ષણ કરવા માટે ધ્રુવીકરણ કોણને 90° દ્વારા સમાયોજિત કરી શકે છે.
સ્પષ્ટીકરણ
| સ્પષ્ટીકરણ | મોડલ | |
| વસ્તુ | વિગતો | 4XC-W |
| ઓપ્ટિકલ સિસ્ટમ | મર્યાદિત વિચલન કરેક્શન ઓપ્ટિકલ સિસ્ટમ | · |
| અવલોકન ટ્યુબ | હિન્જ્ડ બાયનોક્યુલર ટ્યુબ, 30° ઝુકાવ;ટ્રાઇનોક્યુલર ટ્યુબ, એડજસ્ટેબલ ઇન્ટરપ્યુપિલરી ડિસ્ટન્સ અને ડાયોપ્ટર. | · |
| આઈપીસ (દૃશ્યનું મોટું ક્ષેત્ર) | WF10X(Φ18mm) | · |
| WF16X(Φ11mm) | O | |
| WF10X(Φ18mm) ક્રોસ ડિવિઝન રુલર સાથે | O | |
| માનક ઉદ્દેશ્ય લેન્સ(લોંગ થ્રો પ્લાન વર્ણહીન ઉદ્દેશ્યો) | PL L 10X/0.25 WD8.90mm | · |
| PL L 20X/0.40 WD3.75mm | · | |
| PL L 40X/0.65 WD2.69mm | · | |
| SP 100X/0.90 WD0.44mm | · | |
| વૈકલ્પિક ઉદ્દેશ્ય લેન્સ(લોંગ થ્રો પ્લાન વર્ણહીન ઉદ્દેશ્યો) | PL L50X/0.70 WD2.02mm | O |
| PL L 60X/0.75 WD1.34mm | O | |
| PL L 80X/0.80 WD0.96mm | O | |
| PL L 100X/0.85 WD0.4mm | O | |
| કન્વર્ટર | બોલ ઇનર પોઝિશનિંગ ફોર-હોલ કન્વર્ટર | · |
| બોલ ઇનર પોઝિશનિંગ ફાઇવ-હોલ કન્વર્ટર | O | |
| ફોકસીંગ મિકેનિઝમ | બરછટ અને દંડ ચળવળ દ્વારા કોક્સિયલ ફોકસ ગોઠવણ, દંડ ગોઠવણ મૂલ્ય: 0.002mm;સ્ટ્રોક (સ્ટેજ સપાટીના ફોકસમાંથી): 30mm.બરછટ ચળવળ અને તાણ એડજસ્ટેબલ, લોકીંગ અને લિમિટ ડિવાઇસ સાથે | · |
| સ્ટેજ | ડબલ-લેયર મિકેનિકલ મોબાઇલ પ્રકાર (કદ: 180mmX150mm, મૂવિંગ રેન્જ: 15mmX15mm) | · |
| લાઇટિંગ સિસ્ટમ | 6V 20W હેલોજન લાઇટ, એડજસ્ટેબલ તેજ | · |
| ધ્રુવીકરણ એક્સેસરીઝ | વિશ્લેષક જૂથ, ધ્રુવીકરણ જૂથ | O |
| રંગ ફિલ્ટર | પીળો ફિલ્ટર, લીલો ફિલ્ટર, બ્લુ ફિલ્ટર | · |
| મેટાલોગ્રાફિક વિશ્લેષણ સિસ્ટમ | JX2016મેટાલોગ્રાફિક એનાલિસિસ સોફ્ટવેર, 3 મિલિયન કેમેરા ડિવાઇસ, 0.5X એડેપ્ટર લેન્સ ઇન્ટરફેસ, માઇક્રોમીટર | · |
| PC | એચપી બિઝનેસ કમ્પ્યુટર | O |
નૉૅધ: "·" પ્રમાણભૂત રૂપરેખાંકન છે;"O" વૈકલ્પિક છે
JX2016 મેટાલોગ્રાફિક ઈમેજ એનાલિસિસ સોફ્ટવેર વિહંગાવલોકન
"વ્યાવસાયિક જથ્થાત્મક મેટાલોગ્રાફિક ઇમેજ વિશ્લેષણ કોમ્પ્યુટર ઓપરેટિંગ સિસ્ટમ" મેટાલોગ્રાફિક ઇમેજ વિશ્લેષણ સિસ્ટમ પ્રક્રિયાઓ અને રીઅલ-ટાઇમ સરખામણી, શોધ, રેટિંગ, વિશ્લેષણ, આંકડા અને આઉટપુટ ગ્રાફિક અહેવાલો એકત્રિત નમૂના નકશા દ્વારા ગોઠવવામાં આવે છે.સોફ્ટવેર આજની અદ્યતન ઇમેજ એનાલિસિસ ટેક્નોલોજીને એકીકૃત કરે છે, જે મેટાલોગ્રાફિક માઈક્રોસ્કોપ અને ઈન્ટેલિજન્ટ એનાલિસિસ ટેક્નોલોજીનું સંપૂર્ણ સંયોજન છે.DL/DJ/ASTM, વગેરે).સિસ્ટમમાં તમામ ચાઈનીઝ ઈન્ટરફેસ છે, જે સંક્ષિપ્ત, સ્પષ્ટ અને ચલાવવા માટે સરળ છે.સરળ તાલીમ પછી અથવા સૂચના માર્ગદર્શિકાનો ઉલ્લેખ કર્યા પછી, તમે તેને મુક્તપણે ચલાવી શકો છો.અને તે મેટાલોગ્રાફિક સામાન્ય જ્ઞાન શીખવા અને કામગીરીને લોકપ્રિય બનાવવા માટે ઝડપી પદ્ધતિ પ્રદાન કરે છે.
JX2016 મેટાલોગ્રાફિક ઇમેજ વિશ્લેષણ સોફ્ટવેર કાર્યો
છબી સંપાદન સોફ્ટવેર: દસ કરતાં વધુ કાર્યો જેમ કે ઇમેજ એક્વિઝિશન અને ઇમેજ સ્ટોરેજ;
છબી સોફ્ટવેર: દસ કરતાં વધુ કાર્યો જેમ કે ઇમેજ એન્હાન્સમેન્ટ, ઇમેજ ઓવરલે વગેરે.;
છબી માપન સોફ્ટવેર: પરિમિતિ, વિસ્તાર અને ટકાવારી સામગ્રી જેવા ડઝનેક માપન કાર્યો;
આઉટપુટ મોડ: ડેટા ટેબલ આઉટપુટ, હિસ્ટોગ્રામ આઉટપુટ, ઇમેજ પ્રિન્ટ આઉટપુટ.
સમર્પિત મેટલોગ્રાફિક સોફ્ટવેર
અનાજના કદનું માપન અને રેટિંગ (અનાજની સીમા નિષ્કર્ષણ, અનાજની સીમાનું પુનઃનિર્માણ, સિંગલ ફેઝ, ડ્યુઅલ ફેઝ, અનાજના કદનું માપન, રેટિંગ);
નોન-મેટાલિક સમાવેશનું માપન અને રેટિંગ (સલ્ફાઇડ્સ, ઓક્સાઇડ્સ, સિલિકેટ્સ, વગેરે સહિત);
પર્લાઇટ અને ફેરાઇટ સામગ્રી માપન અને રેટિંગ;ડ્યુટાઇલ આયર્ન ગ્રેફાઇટ નોડ્યુલારિટી માપન અને રેટિંગ;
Decarburization સ્તર, carburized સ્તર માપન, સપાટી કોટિંગ જાડાઈ માપન;
વેલ્ડ ઊંડાઈ માપન;
ફેરીટીક અને ઓસ્ટેનિટીક સ્ટેનલેસ સ્ટીલ્સનું ફેઝ-એરિયા માપન;
ઉચ્ચ સિલિકોન એલ્યુમિનિયમ એલોયના પ્રાથમિક સિલિકોન અને યુટેક્ટિક સિલિકોનનું વિશ્લેષણ;
ટાઇટેનિયમ એલોય સામગ્રી વિશ્લેષણ...વગેરે;
સરખામણી માટે લગભગ 600 સામાન્ય રીતે ઉપયોગમાં લેવાતી મેટલ સામગ્રીના મેટલોગ્રાફિક એટલાસ ધરાવે છે, મેટલોગ્રાફિક વિશ્લેષણ અને મોટાભાગના એકમોના નિરીક્ષણની જરૂરિયાતોને પૂર્ણ કરે છે;
નવી સામગ્રી અને આયાતી ગ્રેડ સામગ્રીના સતત વધારાને ધ્યાનમાં રાખીને, સામગ્રી અને મૂલ્યાંકન ધોરણો કે જે સૉફ્ટવેરમાં દાખલ કરવામાં આવ્યા નથી તે કસ્ટમાઇઝ અને દાખલ કરી શકાય છે.
JX2016 મેટાલોગ્રાફિક ઈમેજ એનાલિસિસ સોફ્ટવેર ઓપરેશન સ્ટેપ્સ
1. મોડ્યુલ પસંદગી
2. હાર્ડવેર પરિમાણ પસંદગી
3. છબી સંપાદન
4. દૃશ્ય પસંદગીનું ક્ષેત્ર
5. રેટિંગ સ્તર
6. અહેવાલો બનાવો
