4xb પરિચય
4xB બાયનોક્યુલર ver ંધી મેટલોગ્રાફિક માઇક્રોસ્કોપનો ઉપયોગ વિવિધ ધાતુઓ અને એલોયની રચનાને ઓળખવા અને તેનું વિશ્લેષણ કરવા માટે થાય છે. તે મેટલોગ્રાફિક સ્ટ્રક્ચર અને સપાટીના મોર્ફોલોજીના માઇક્રોસ્કોપિક નિરીક્ષણ માટે યોગ્ય છે.
નિરીક્ષણ પદ્ધતિ
ઇન્સ્ટ્રુમેન્ટ બેઝનો સપોર્ટ ક્ષેત્ર મોટો છે, અને વક્ર હાથ મક્કમ છે, જેથી સાધનનું ગુરુત્વાકર્ષણનું કેન્દ્ર ઓછું અને સ્થિર અને વિશ્વસનીય હોય. આઇપિસ અને સપોર્ટ સપાટી 45 at પર વલણવાળી હોવાથી, નિરીક્ષણ આરામદાયક છે.
યાંત્રિક તબક્કો
બિલ્ટ-ઇન રોટેટેબલ પરિપત્ર સ્ટેજ પ્લેટ સાથે યાંત્રિક રીતે સ્ટેજ મૂવિંગ. આંતરિક છિદ્ર φ10 મીમી અને φ20 મીમી સાથે બે પ્રકારની ટ્રે છે.
પ્રકાશ પદ્ધતિ
ચલ લાઇટ બાર, 6 વી 20 ડબલ્યુ હેલોજન લેમ્પ લાઇટિંગ, એડજસ્ટેબલ તેજ સાથે કોહલર લાઇટિંગ સિસ્ટમ અપનાવો. એસી 220 વી (50 હર્ટ્ઝ).
4xb રૂપરેખાંકન કોષ્ટક
| ગોઠવણી | નમૂનો | |
| બાબત | વિશિષ્ટતા | 4xb |
| Ticalપિક પદ્ધતિ | અનંત પદ્ધતિ | · |
| નિરીક્ષણ નળી | બાયનોક્યુલર ટ્યુબ, 45 ° વલણ. | · |
| આંખમાં નારાજગી | ફ્લેટ ફીલ્ડ આઇપિસ ડબલ્યુએફ 10 એક્સ (φ18 મીમી) | · |
| ફ્લેટ ફીલ્ડ આઇપિસ ડબલ્યુએફ 12.5x (φ15 મીમી) | · | |
| ક્રોસ ડિફરન્સિએશન શાસક સાથે ફ્લેટ ફીલ્ડ આઇપિસ ડબલ્યુએફ 10 એક્સ (φ18 મીમી) | O | |
| ઉદ્દેશ્ય લેન્સ | એક્રોમેટિક ઉદ્દેશ 10x/0.25/WD7.31 મીમી | · |
| અર્ધ-પ્લાન એક્રોમેટિક ઉદ્દેશ 40x/0.65/WD0.66 મીમી | · | |
| એક્રોમેટિક ઉદ્દેશ 100x/1.25/wd0.37 મીમી (તેલ) | · | |
| ધર્મપદી | ચાર છિદ્ર કન્વર્ટર | · |
| કેન્દ્રિત પદ્ધતિ | ગોઠવણ શ્રેણી: 25 મીમી, સ્કેલ ગ્રીડ મૂલ્ય: 0.002 મીમી | · |
| નાટ્ય | ડબલ-લેયર મિકેનિકલ મોબાઇલ પ્રકાર (કદ: 180mmx200 મીમી, મૂવિંગ રેંજ: 50 મીમીક્સ 70 મીમી) | · |
| પ્રકાશ પદ્ધતિ | 6 વી 20 ડબલ્યુ હેલોજન લેમ્પ, તેજ એડજસ્ટેબલ | · |
| રંગસંધ | પીળો ફિલ્ટર, લીલો ફિલ્ટર, વાદળી ફિલ્ટર | · |
| સ Sof ાંકણાનું પેકેજ | મેટલોગ્રાફિક વિશ્લેષણ સ software ફ્ટવેર (સંસ્કરણ 2016, સંસ્કરણ 2018) | O |
| કેમેરા | મેટલોગ્રાફિક ડિજિટલ કેમેરા ડિવાઇસ (5 મિલિયન, 6.3 મિલિયન, 12 મિલિયન, 16 મિલિયન, વગેરે) | |
| 0.5x કેમેરા એડેપ્ટર | ||
| સર્વોતાર | ઉચ્ચ-ચોકસાઇ માઇક્રોમીટર (ગ્રીડ મૂલ્ય 0.01 મીમી) | |
નોંધ. "·"ધોરણ ；"O”વૈકલ્પિક
